Rasterelektronenmicroscopie (SEM) levert andere contrasten en laat hogere vergrotingen toe dan lichtmicroscopie. Bovendien is de elektronenmicroscoop uitgerust met een EDX module voor bepaling van een elementensamenstelling, lokaal of globaal door scannen van een oppervlak.
Rasterelektronenmicroscopie (SEM)
- METALogic officially becomes TÜV AUSTRIA Belgium: Driving innovation and growth
- Breukgedrag in materialen
- SEM-EDX: dé tool binnen schadeonderzoek voor beeldvorming en chemische analyse
- METALogic breidt eigen labo uit met autoclaaftesten
- Schade/corrosiemechanisme: flow accelerated corrosion (FAC)
- METALogic & TÜV AUSTRIA: gedeelde expertise voor een geïntegreerde aanpak
- Testen van de coatingkwaliteit: kan een elektrochemische test de neutrale zoutneveltest vervangen?
